definicija |
mikroskopija koja se za topografsku analizu površine uzorka koristi elektronima elastično raspršenima od površine uzorka |
istoznačnice |
dopušteni naziv: mikroskopija elektronima niske energije, niskonaponska elektronska mikroskopija |
istovrijednice |
engleski: low-energy electron microscopy, low voltage electron microscopy |
kratice |
engleska: LEEM, LVEM |
napomena |
Za ubrzanje elektrona upotrebljavaju se električni naponi do nekoliko keV. |
razredba |
polje: fizika |
vrela |
